东京11月8日消息(GLOBE NEWSWIRE) -领先的半导体测试设备供应商Advantest Corporation (TSE: 6857)推出了用于V93000平台的新型Link Scale™数字通道卡系列，实现了先进半导体的基于软件的功能测试和USB / PCI Express (PCIe)扫描测试。新卡解决了需要这些接口在全协议模式下运行的测试挑战，增加了类似系统的测试^™功能升级到V93000。

当今许多复杂的片上系统(SoC)设备、微处理器、图形处理器和AI加速器都包含USB或PCIe等高速数字接口。新的Link Scale卡使用这些接口来非常快速地传输功能和扫描测试内容，同时增加测试覆盖率和吞吐量。使用与所有其他V93000卡相同的形状因子，它们完全集成到测试头中。

新的Link Scale卡通过标准高速串行接口与被测设备通信。这允许用户在正常的操作模式下测试设备，使用与目标应用程序类似的固件和驱动程序。这种方法的高吞吐量使测试时间处于控制之下，而额外的功能覆盖有助于满足在最新工艺节点中制造的复杂设备的严格质量要求。Link Scale卡允许使用最先进的调试工具(例如Lauterbach TRACE32)^®)，改进了第一批硅的生产工艺，并加快了全面生产的步伐。

利用便携式测试和刺激标准(PSS)，现在可以重复使用硅前功能测试，该标准由主要的电子设计自动化(EDA)工具支持，可显著提高测试质量并缩短上市时间。新卡还为在卡上运行的主机软件提供了可定制的环境，允许在V93000系统上使用完整的软件堆栈进行实际应用程序测试。这有助于在不同环境之间交换测试数据，例如晶圆排序、最终测试和系统级测试。因此，Link Scale测试解决方案可以帮助用户建立2.5D或3D多模封装芯片的已知好模(KGD)策略。

Cadence系统与验证组业务与客户开发副总裁Yogesh Goel表示:“通过与Cadence Perspec系统验证器的合作，客户可以在大批量生产中重用来自设计验证的软件驱动的功能压力测试。“客户可以从使用广泛建立的工具链中受益，以高覆盖率和短执行时间自动生成和调试测试。”

“通过使用高速链路，支持自定义操作系统和驱动程序，集成本地处理能力，并结合来自得天独厚的EDA合作伙伴的支持，我们的link Scale卡提供了传统ATE无法比拟的测试和调试功能，”得天独厚V93000业务部门的执行主管Juergen Serrer说。该产品系列将我们V93000平台的应用范围扩展到新的领域，极大地丰富了ATE的数字测试。”

新卡可以添加到任何V93000智能秤或V93000 EXA秤系统中，并已交付给试点客户，以便在设备批量生产之前进行测试程序开发。它们将在2022年第一季度广泛使用。

关于Advantest公司
Advantest (TSE: 6857)是自动化测试和测量设备的领先制造商，用于半导体的设计和生产，应用领域包括5G通信、物联网(IoT)、自动驾驶汽车、人工智能(AI)、机器学习、智能医疗设备等。其领先的系统和产品被集成到世界上最先进的半导体生产线。该公司还进行研发，以应对新兴的测试挑战和应用，生产掩模制造必不可少的多视觉计量扫描电子显微镜，并提供开创性的3D成像和分析工具。爱德美于1954年在东京成立，是一家全球性公司，在世界各地设有工厂，致力于可持续发展实践和社会责任。更多信息请访问www.advantest.com．

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