与高频(GHz)信号可靠的老派FR-4董事会上变得越来越流行,它已经成为越来越重要的测试线的质量——具体地说,他们的插入损耗(SDD21)——作为PCB制造步骤。问题是,你必须调查跟踪的两端。在实验室里不太困难,但是大容量测试人员并不为——他们想要建造探测器在一个地方。

两年前在DesignCon,英特尔提出了一种新的确定插入损耗法通过时域测量只有两个点,两个在相同的行结束。他们称之为“单端热带病研究和培训特别规划微分插入损耗,”或SET2DIL。

快速术语注意:似乎有矛盾业内人士对这些测试点是什么。一些将他们称为两个“终端”,相当于一个“端口。“罗德与施瓦茨(或其他)似乎等同于“终端”和“端口”这里的系统我们谈论的都是四端系统,但可能是两口或四个端口的系统,根据你定义的“港口。“要解决的问题是能力测试四端系统通过测量只有两个终端。批判性,同时这些终端的两个构成微分对痕迹。

在今年的DesignCon, SET2DIL似乎出现,至少在软件的形式。罗德与施瓦茨是展示,除此之外,他们的矢量网络分析仪(VNA)可能使时域反射计或transmissometry测量,然后把他们变成一个电脑跑SET2DIL算法计算微分插入损耗。他们说他们正在努力将该算法集成到VNA本身。

极地工具似乎也在支持SET2DIL 2012地图版本的软件。

罗德与施瓦茨的解决方案的更多信息可以在他们找到释放。

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